1、鹽霧測(cè)試35℃, 5%的Nacl溶液手機(jī)關(guān)機(jī)放入鹽霧試驗(yàn)箱內(nèi)，用繩子懸掛起來(lái)。實(shí)驗(yàn)周期是48個(gè)小時(shí)。取出樣機(jī)，放置48小時(shí)進(jìn)行常溫干燥，對(duì)其進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。手機(jī)各項(xiàng)功能正常，外殼表面及裝飾件無(wú)明顯腐蝕等異常現(xiàn)象。

2、溫度沖擊 -30℃ （45分鐘）+70℃ （45分鐘）手機(jī)關(guān)機(jī)放入武漢冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)內(nèi)，高溫低溫循環(huán)27次。取出樣機(jī)，恢復(fù)2小時(shí)后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。手機(jī)各項(xiàng)功能正常，外殼無(wú)異變。

3、振動(dòng)振幅：0.38mm;振頻：10~30Hz;振幅：0.19mm;振頻：30~55Hz;手機(jī)開機(jī)放入振動(dòng)臺(tái)。X、Y、Z三個(gè)軸向分別振動(dòng)1個(gè)小時(shí)之后取出，然后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。振動(dòng)前5分鐘內(nèi)手機(jī)內(nèi)存和設(shè)置沒(méi)有丟失現(xiàn)象，后55分鐘可以出現(xiàn)關(guān)機(jī)現(xiàn)象， 手機(jī)各項(xiàng)功能正常，尤其是顯示和SPL，外殼無(wú)嚴(yán)重?fù)p傷，內(nèi)部組件無(wú)脫落。

4、跌落試驗(yàn)1.5米高手機(jī)關(guān)機(jī)，6個(gè)面，每個(gè)面跌落一次，然后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。手機(jī)各項(xiàng)功能正常，外殼無(wú)變形，7cm高，20,000次手機(jī)關(guān)機(jī)，在一個(gè)混凝土臺(tái)面上低位跌落20,000次，一個(gè)產(chǎn)品正面朝下跌落，一個(gè)產(chǎn)品背面朝下跌落，然后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。 -10℃, 1.2米高手機(jī)關(guān)機(jī)放入低溫跌落試驗(yàn)箱2小時(shí)后，進(jìn)行跌落試驗(yàn)，然后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。

5、砂塵測(cè)試15~35℃, 45~75%RH條件下，灰塵濃度：6±1g/m3，氣流速度2m/s手機(jī)關(guān)機(jī)放入砂塵試驗(yàn)箱，每間隔59分鐘吹1次，時(shí)間1分鐘，4天后取出，并放置2小時(shí)，恢復(fù)至常溫，然后進(jìn)行電性能、機(jī)械性能的檢查。手機(jī)各項(xiàng)功能正常，外殼無(wú)異變。

6、高溫／低溫工作 -10℃ / 55℃ 手機(jī)開機(jī)放入高低溫試驗(yàn)箱。2小時(shí)后，進(jìn)行電性能檢查。手機(jī)電性能指標(biāo)滿足要求，功能正常，外殼無(wú)變形。

7、中溫高濕+40℃, 93%RH 手機(jī)開機(jī)放入高低溫濕熱試驗(yàn)箱。48小時(shí)后，進(jìn)行電性能檢查。手機(jī)電性能指標(biāo)滿足要求，功能正常，外殼無(wú)變形。

8、高溫/低溫存儲(chǔ)-30℃ / +70℃手機(jī)關(guān)機(jī)放入高低溫試驗(yàn)箱。24小時(shí)后，取出，并放置2小時(shí)，恢復(fù)至常溫，然后進(jìn)行電性能檢查。手機(jī)電性能指標(biāo)滿足要求，功能正常，外殼無(wú)變形。

9、高溫高濕60℃，90%RH手機(jī)關(guān)機(jī)放入溫度實(shí)驗(yàn)箱。60小時(shí)后取出，恢復(fù)4小時(shí)，然后進(jìn)行外觀、機(jī)械和電性能檢查。手機(jī)各項(xiàng)功能正常，外殼無(wú)變形。